Término solicitado: LEYDEN, DONALD E.^RED./(22)
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| Tipo de Docum.: | advance |
| Título: | Proceedings |
| Autor: | McCarthy, Gregory J.. ed.; Barrett, Charles S.. ed.; Leyden, Donald E.. ed.; Newkirk, John B.. ed.; Ruud, Clayton O.. ed. |
| Reunión: | University of Denver. Denver. US, JCPDS-International Centre for Diffraction Data, Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, 27, Denver. US, 1978 |
| Título Ser./Col.: | Advances in X-ray analysis, vol.22 |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | New York. US. Plenum Press. 1979. |
| Pág./Vol.: | 492p. |
| Notas: | Ejemplar único en préstamo permanente en INTI-Química. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Espectroscopía de rayos X; Materiales radioactivos; Procesamiento de datos; Difractometría; Análisis cuantitativo; Industria minera; Papel; Pigmentos; Aceros; Radiación; Aceros inoxidables; Carbono |
| Ubicación: | 543.4/.47/A244/22/A; CEQUIPE/164/Metales y A.Inorgánico |
| Disponibilidad: | Préstamo |
Fin
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